技術(shù)編號(hào)：8318089
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。 本發(fā)明涉及核探測(cè)技術(shù)與核電子學(xué)領(lǐng)域，且特別涉及一種閃爍體中子探測(cè)器系統(tǒng) 及其數(shù)字化讀出系統(tǒng)。背景技術(shù) 中子和X射線都是人類探索物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的有效探針。與X射線不同，中子不帶 電，能夠輕易的穿過(guò)電子層。利用散射技術(shù)，使得中子成為目前研宄物質(zhì)結(jié)構(gòu)和動(dòng)力學(xué)性質(zhì) 的最為理想的探針。散射后的中子需要使用位置靈敏度高的中子探測(cè)器接收，以獲得散射 中子的出射角度，為分析物質(zhì)結(jié)構(gòu)提供有效信息。這樣的中子探測(cè)器具有高計(jì)數(shù)率、高探測(cè) 效率、大立體角、高定位精度和高η/ γ抑...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。