技術(shù)編號(hào)：8281988
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。 當(dāng)一電容式觸控面板應(yīng)用至一大尺寸裝置時(shí)，感測(cè)線數(shù)量增加。此外，對(duì)于增加感 測(cè)速度及計(jì)算掃描結(jié)果的需求也增加。 于軸交錯(cuò)式（Axis Intersect ;AI)電容感測(cè)技術(shù)中，是以自電容 (self-capacitance)感測(cè)方法偵測(cè)一觸碰的坐標(biāo)。然而軸交錯(cuò)式電容感測(cè)技術(shù)會(huì)發(fā) 生鬼點(diǎn)（ghost point)問(wèn)題，因此無(wú)法偵測(cè)多點(diǎn)觸碰（multi-point touch)。相對(duì) 地，于全點(diǎn)可尋址（All-Points Addressable ;APA)...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
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