技術(shù)編號(hào)：817190
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明一般涉及用于X射線計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)的低照射劑量X射線源。背景技術(shù)一般情況下，使用裝于掃描架上的X射線源(如旋轉(zhuǎn)式陽極射線源)進(jìn)行X射線計(jì)算機(jī)斷層掃描(CT)，掃描架上裝有一個(gè)或多 個(gè)與之相對(duì)布置的X射線閃爍探測(cè)器。掃描架上通常有一個(gè)容納病人的中心孔，使病人處于射線源與探測(cè)器之間。這樣，探測(cè)器就能測(cè)到來自射線源的X射線束穿過病人后衰減的X射線強(qiáng)度格局。通常，掃描架上的射線源和探測(cè)器圍繞病人旋轉(zhuǎn)。利用已知的濾波反投影等重建算法，可以將這種方式采集到的數(shù)...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。