技術(shù)編號：7814069
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開了一種在。本發(fā)明主要通過對輻射環(huán)境中的設(shè)備發(fā)送命令并且記錄保存返回參數(shù)，對設(shè)備進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控。系統(tǒng)主要包括測試元件、內(nèi)外連接線和外部監(jiān)控三部分組成。本發(fā)明主要通過對返回參數(shù)和圖像進(jìn)行結(jié)果分析，判斷元件的工作和損壞情況。最后，通過元件所在點(diǎn)的輻射率和正常運(yùn)行時(shí)間計(jì)算得到元件正常運(yùn)行的最大輻射劑量。這種方法可以有效地檢測出元件在輻射環(huán)境中的抗輻射性能，具有較強(qiáng)的操作性和可靠性。專利說明 [0001]本發(fā)明公開了一種在，涉及對元器件的實(shí)時(shí)監(jiān)測和控制...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。