技術(shù)編號(hào)：76201
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。技術(shù)領(lǐng)域本發(fā)明涉及掃描探針顯微鏡(SPM)，更具體而言，涉及能夠以高采集速率來(lái)采集高質(zhì)量圖像的SPM以及對(duì)這種SPM進(jìn)行操作的方法。背景技術(shù)掃描探針顯微鏡(SPM)，比如原子力顯微鏡(AFM)等，是通常使用針尖以及較低的針尖-樣品的相互作用力來(lái)表征小至原子尺寸的樣品的表面的設(shè)備。一般來(lái)說(shuō)，SPM包括具有針尖的探針，該針尖被引至樣品的表面以探測(cè)樣品特性的改變。通過(guò)在針尖與樣品之間提供相對(duì)的掃描移動(dòng)，能夠在樣品的特定區(qū)域上采集特性數(shù)據(jù)并能夠生成樣品相應(yīng)的圖。原子力顯微鏡(AFM)是一種很常見(jiàn)類(lèi)型的SPM。圖1中示意性地...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專(zhuān)利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專(zhuān)利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。