技術(shù)編號：7545156
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開了，包括步驟（1）校準(zhǔn)DAC的設(shè)計將所述主DAC高段中每一位電容的誤差電壓數(shù)字化，將上述處理后的校準(zhǔn)碼進(jìn)行數(shù)模轉(zhuǎn)換；步驟（2）數(shù)字校準(zhǔn)時序的設(shè)計，包括獲取校準(zhǔn)碼、采樣保持和逐位轉(zhuǎn)換；將本發(fā)明方法應(yīng)用在高精度逐次逼近型的模數(shù)轉(zhuǎn)換器中，對分段式主數(shù)模轉(zhuǎn)換器（DAC）中高段部分的電容陣列進(jìn)行數(shù)字校準(zhǔn)，可以減小由于寄生電容和工藝制造誤差而帶來的電容間失配，極大的修正了高段中相鄰位電容由于失配造成不再是呈精準(zhǔn)的二倍關(guān)系的問題，有效提高了逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
該類技術(shù)注重原理思路，無完整電路圖，適合研究學(xué)習(xí)。