技術(shù)編號：7536008
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及數(shù)字電路電性能的性能測試裝置，尤其涉及半導(dǎo)體集成電 路的自動復(fù)位電路，特別是涉及內(nèi)含自動復(fù)位電路的集成電路芯片。背景技術(shù)現(xiàn)有技術(shù)半導(dǎo)體集成電路一般都包括自動復(fù)位電路，目的是防止加電 時電路出現(xiàn)不穩(wěn)定狀態(tài)，導(dǎo)致整個或者部分集成電路工作不正常。一般情況下，電源施加于 電路沒有達到預(yù)定電壓時，自動復(fù)位電路會提供一個復(fù)位信號來初始化半導(dǎo)體集成電路中 的各個模塊，當(dāng)電源電壓達到正常工作電壓時，即撤銷復(fù)位信號。自動復(fù)位電路的另外一個 作用是使集成電路能夠在不...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
該類技術(shù)注重原理思路，無完整電路圖，適合研究學(xué)習(xí)。