技術(shù)編號：7515453
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及檢測單元。本發(fā)明還涉及用于再現(xiàn)信息載體的裝置。本發(fā)明還涉及檢測方法。背景技術(shù) 在用于再現(xiàn)信息載體的裝置中，信息從在信息載體上的軌跡(tracks)中存儲的物理可檢測模式(patterns)被再現(xiàn)。該物理可檢測模式例如是磁可檢測模式或光可檢測模式。光可檢測模式例如包含多個凹槽(pits)，或者由一序列的有不同相位(phase)的單元(location)組成。為了從具有有限符號間干擾(inter symbol interference)的信息載體中檢...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
該類技術(shù)注重原理思路，無完整電路圖，適合研究學(xué)習(xí)。