技術(shù)編號：74266
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。技術(shù)領(lǐng)域本發(fā)明涉及具有管狀體的、在管狀體內(nèi)對射入的X射線進行反射并使反射后的X 射線射出聚焦的X射線聚焦元件及具有該X射線元件的X射線照射裝置。背景技術(shù)在諸如材料的研發(fā)或生物體檢查等研究開發(fā)，或者諸如異物分析或產(chǎn)品不良解析之類質(zhì)量管理等各種用途中，使用X射線分析裝置，對試樣照射X射線，檢測從試樣釋放出的熒光X射線、穿透試樣的穿透X射線、或衍射X射線等，分析試樣的內(nèi)部組成及晶體結(jié)構(gòu)等。X射線分析裝置有一種用X射線反射鏡使自X射線源射出的X射線反射、聚焦后再照射到試樣上的裝置。但是，在X射線分析裝置采用X射線反射鏡時，...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。