技術(shù)編號(hào)：73895
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。技術(shù)領(lǐng)域本發(fā)明涉及一種基于原子力顯微鏡的聲成像用弱信號(hào)檢測器，用于原子力顯微鏡 的聲成像系統(tǒng)，屬于信號(hào)檢測儀器領(lǐng)域。背景技術(shù)隨著當(dāng)前納米科技的迅猛發(fā)展，在許多高新技術(shù)領(lǐng)域具有重要應(yīng)用價(jià)值的材料及 其器件正朝著納米尺度方向日趨高度微型化和集成化。在納米尺度上材料及器件的性質(zhì)和 行為不僅與其表面的結(jié)構(gòu)有關(guān)，而且更與它們的亞表面結(jié)構(gòu)和性能息息相關(guān)。為此，在商用 原子力顯微鏡基礎(chǔ)上發(fā)展聲成像技術(shù)，以解決在試樣原位進(jìn)行表面與亞表面成像的難題， 從而推動(dòng)納米材料與器件的發(fā)展，這是當(dāng)前開展納米科技領(lǐng)域的一個(gè)熱點(diǎn)。弱信號(hào)檢測是 其...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。