技術編號：7377964
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。一種探測內置有半導體芯片(100)的功率模塊的劣化的裝置，具備劣化探測處理部(10)，該劣化探測處理部根據(jù)檢測半導體芯片(100)的溫度而得到的溫度信號(S1)中包含的交流信號與檢測半導體芯片(100)的電力損耗而得到的電力損耗信號(S3)中包含的交流分量之間的傳遞特性，進行劣化探測處理，排除其他發(fā)熱源的溫度干擾的影響而可靠地探測功率模塊的劣化度。專利說明功率模塊的劣化探測裝置 [0001] 本發(fā)明涉及探測集成半導體芯片來進行電力變換動作的功率模塊的...
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