技術編號：7357071
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明公開了一種模擬量校正方法及基于該方法的單CPU低壓保護裝置,電路系統(tǒng)中低端信號采集設備及精度較低的電阻電容等硬件會在電信號傳輸過程中造成信號的幅值及相位誤差,本發(fā)明模擬量校正方法通過對待檢電路輸入標準值的電壓/電流信號，對比相應的輸入和輸出值,并結合三相電的相位關系，計算出待檢電路各相電電壓/電流校正向量系數(shù),在正常采集中,通過該系數(shù)對低端設備的采集值進行校正,有效提高了電路的測量精度,同時降低了電路硬件設備的制造成本。專利說明一種模擬量校正方法及基...
注意：該技術已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權人授權前，僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權，增加技術思路，做技術知識儲備，不適合論文引用。