技術(shù)編號(hào)：7257809
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開(kāi)了一種接近檢測(cè)器設(shè)備，可以包括第一互連層，包括第一電介質(zhì)層以及由其承載的多個(gè)第一導(dǎo)電跡線(xiàn)；IC層，在所述第一互連層之上并且具有圖像傳感器IC以及與所述圖像傳感器IC橫向間隔的光源IC。所述接近檢測(cè)器可以包括第二互連層，其在所述IC層之上并且具有第二電介質(zhì)層以及由其承載的多個(gè)第二導(dǎo)電跡線(xiàn)。所述第二互連層可以具有在其中的分別與所述圖像傳感器IC和所述光源IC對(duì)準(zhǔn)的第一開(kāi)口和第二開(kāi)口。所述圖像傳感器IC和所述光源IC中的每個(gè)可以被耦合到所述第一導(dǎo)電跡線(xiàn)...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專(zhuān)利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專(zhuān)利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。