技術(shù)編號(hào)：7253291
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。一種減少確定具有浮動(dòng)?xùn)艠O的存儲(chǔ)器單元的數(shù)據(jù)保持的測(cè)試時(shí)間的方法，該浮動(dòng)?xùn)艠O用于在其上存儲(chǔ)電荷以確定該存儲(chǔ)器單元是否具有來自浮動(dòng)?xùn)艠O的漏電流。該存儲(chǔ)器單元的特征在于具有依賴于浮動(dòng)?xùn)艠O的電壓的絕對(duì)值的漏電速率的漏電流。該存儲(chǔ)器單元的特征還在于在正常操作期間施加的第一擦除電壓與第一編程電壓，以及在正常操作期間檢測(cè)到的第一讀取電流。本方法施加大于第一擦除電壓的電壓來過度擦除該浮動(dòng)?xùn)艠O。包括浮動(dòng)?xùn)艠O的存儲(chǔ)器單元經(jīng)受單一高溫烘烤。該存儲(chǔ)器單元然后基于該單一高溫烘烤來針...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。