技術(shù)編號:7109360
提示:您尚未登錄,請點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及半導(dǎo)體器件的制備工藝,確切的說,是涉及到一種簡化存儲器中字線介電質(zhì)膜刻蝕成型的工藝方法。背景技術(shù)如圖I所示,在存儲器中,字線的功能非常重要,一個存儲單元的大致結(jié)構(gòu)如圖所示,字線I將晶體管3的柵極連接起來,通過對存儲單元進(jìn)行選擇性的開啟和關(guān)閉,來控制電容2的充電及放電。再如圖2所示,為存儲器的基本原理圖,通過字線I的高、低電平來控制晶體管2的開關(guān),從而實(shí)現(xiàn)了對晶體管開關(guān)的控制。 現(xiàn)有的字線介電質(zhì)膜刻蝕成型工藝如圖3A-3F所示,如圖3A所示,先在介...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。