技術(shù)編號:7101098
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及電路器件和電路器件的制造與結(jié)構(gòu)。背景技術(shù)襯底上的電路器件(例如,半導(dǎo)體(例如硅)襯底上的集成電路(IC)晶體管、電阻器、電容器等)性能的增強,通常是那些器件的設(shè)計、制造和運行過程中所考慮的主要因素。例如,在金屬氧化物半導(dǎo)體(MOS)晶體管器件(例如用在互補金屬氧化物半導(dǎo)體(CMOS)中的那些器件)的設(shè)計和制造或形成期間,常常需要提高N型MOS器件(n-MOS)溝道中的電子移動,并需要提高P型MOS器件(p-MOS)溝道中的正電荷空穴的移動。評定器...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。