技術(shù)編號:7054794
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明的半導(dǎo)體裝置具備n型第一SiC外延層;p型第二SiC外延層,其設(shè)置在第一SiC外延層上,并含有p型雜質(zhì)和n型雜質(zhì),在將p型雜質(zhì)設(shè)定為元素A、將n型雜質(zhì)設(shè)定為元素D的情況下,元素A和元素D的組合為Al(鋁)、Ga(鎵)或者In(銦)與N(氮)的組合、B(硼)與P(磷)的組合中的至少一個組合,構(gòu)成組合的元素D的濃度相對于元素A的濃度之比大于0.33且小于1.0;表面區(qū)域,其設(shè)置在第二SiC外延層的表面,且相對于第二SiC外延層,元素A的濃度低、上述比大;...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。