技術(shù)編號:7045761
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。一種抗PID晶體硅太陽能電池的制作方法,該制作方法是通過臭氧氧化的工藝,在硅基底與氮化硅之間制作一層氧化硅層。由于臭氧的氧化能力極強,能夠在硅基底表面迅速的生成一層致密氧化硅層。該氧化硅層,能夠在非常薄的情況下,滿足抗PID的需求,因而避免了現(xiàn)有技術(shù)中,由于氧化硅層過厚帶來造成的減反效果降低的問題,使得本發(fā)明的太陽能電池產(chǎn)品完美的解決了抗PID和光利用率的矛盾問題。該薄膜具有出色的表面鈍化效果,相比單一的氮化硅薄膜,其制作的電池可以獲得額外的2~3mV開壓...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。