技術(shù)編號(hào)：6993210
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及半導(dǎo)體器件，特別是涉及檢查在非接觸型IC(集成電路)卡用半導(dǎo)體集成電路器件中是否存在著可以使裝載到內(nèi)部的信號(hào)處理功能部分動(dòng)作的電力的檢測(cè)電路。背景技術(shù) 本說(shuō)明書中要參考的文獻(xiàn)如下，借助于其文獻(xiàn)序號(hào)來(lái)參照文獻(xiàn)。[文獻(xiàn)1]特開(kāi)平10-207580號(hào)公報(bào)。在‘文獻(xiàn)1’中，講述了采用對(duì)從外部供給的交流信號(hào)進(jìn)行整流的辦法形成動(dòng)作電壓進(jìn)行動(dòng)作的被裝載到非接觸IC卡上的電壓監(jiān)測(cè)型上電復(fù)位電路(例如，圖2)。該上電復(fù)位電路的輸出信號(hào)，在裝載到IC卡上的微計(jì)算機(jī)的...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。