技術(shù)編號：6865280
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及表面安裝封裝體內(nèi)的電裝置的老化和測試。尤其地，它涉及在老化和測試期間用來安裝和固定電裝置封裝體的方法和裝置，并涉及在不損害電裝置、裝置封裝體、它的互聯(lián)終端或者測試插座及沒有產(chǎn)生信號失真的情況下，在這些封裝體的密接地間隔開的輸入/輸出終端焊盤或者引線處形成并保持可靠的電接觸。為了減少從芯片到外部電路的總引線長度并且在封裝體的輸入/輸出終端之間提供足夠大的間隔，高管腳計數(shù)裝置有時安裝在封裝體內(nèi)，在該封裝體內(nèi)，輸入/輸出終端呈導電焊盤或者焊點的形式，并...
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