技術編號:6849637
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及。背景技術 近年來,由于半導體器件的工作速度本要求,諸如銅等的低電阻材料被用作互連材料。鑲嵌工藝包括用鑲嵌工藝僅形成一個互連的單鑲嵌工藝,和連接栓塞以及互連也嵌入連接孔與互連溝槽中的雙鑲嵌工藝。圖18A到18E示出了通過雙鑲嵌工藝形成連接栓塞與互連的方法的剖面圖。圖18A是形成包含銅220a的第一金屬互連的步驟的工藝剖面圖。介紹了直到圖18A的情形的工藝。首先,在其上形成例如晶體管等元件的半導體襯底210上形成第一氮化硅膜212和第一二氧化硅膜2...
注意:該技術已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權(quán),增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。