技術(shù)編號:6846968
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明的一個實施例涉及半導(dǎo)體器件制造并涉及具有階梯柵(stepgate)的半導(dǎo)體器件。背景技術(shù) 為了通過提高動態(tài)隨機(jī)訪問存儲器(DRAM)器件中的刷新時間而增強(qiáng)刷新特性,主要是該器件的電容器特性已得到改善。然而,由于器件的集成度已增加,僅利用電容器特性的改善來提高刷新時間是有局限性的。典型地,門限電壓依賴于溝道長度而改變,并且單元的刷新特性相應(yīng)地也改變。為了刷新特性的改善,應(yīng)增加溝道長度,并且因此使用了一種用于增加?xùn)烹姌O臨界尺度(CD)的方法。然而,為了增...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。