技術(shù)編號：6846559
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種，所述器件包含被局部地?zé)o序化的部分，如窗口結(jié)構(gòu)。背景技術(shù) 通常，存在這樣的問題半導(dǎo)體激光器件對災(zāi)難性的光學(xué)損害(COD)所致的突然惡化很敏感，這已成為妨礙半導(dǎo)體激光器件的高輸出功率的因素。COD是一種現(xiàn)象，其中發(fā)生這樣的循環(huán)由非輻射復(fù)合引起的復(fù)合電流流過半導(dǎo)體激光器件活性層的光發(fā)射刻面?zhèn)龋湟鹂堂娴臏囟仍黾?，而增加了的溫度又?dǎo)致帶隙能量的進(jìn)一步減小和光吸收的進(jìn)一步增加，這變成引起刻面熔化的正反饋。為了防止這種COD，一種所謂窗結(jié)構(gòu)是有效的，...
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