技術(shù)編號：6823769
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于量子點器件的表征，特別是涉及一種含有二維電子氣的量子點器件的測量表征。我們設(shè)計了類歐姆接觸的肖特基接觸的量子點器件，采用三端測量的方法，對量子點和二維電子氣的輸運特性進(jìn)行了進(jìn)一步的研究。我們發(fā)現(xiàn)三端測量法可分別測量二維電子氣電阻和量子點隧穿電阻。對于傳統(tǒng)的測量方法，僅能得到量子點隧穿電阻和二維電子氣電阻的總和，如果需要對各自單獨的特性進(jìn)行研究，原來的測量法就不在實用了。本發(fā)明用到的三端測量法建立在傳統(tǒng)兩端測量法的基礎(chǔ)上，可分別測出各具體量，并可指...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。