技術(shù)編號:6819890
提示:您尚未登錄,請點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種快閃存儲器(flash memory),特別是涉及一種利用柵極感應(yīng)漏極漏電流(gate induced drain leakage-GIDL)的快閃存儲器。在1980年末期,半導(dǎo)體工業(yè)開發(fā)了一種可電除且只讀存儲器(electricallyerasable PROM-EEPROM),其成本低且密度高,因此開創(chuàng)了存儲器市場的新紀(jì)元。而“快閃”(flash)一詞是指它可以在短時(shí)間內(nèi),比如1秒鐘抹除整個(gè)存儲器陣列的方式。典型的快閃存儲器是通過熱電子(...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。