技術(shù)編號:6818774
提示:您尚未登錄,請點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明一般涉及到一種具有存儲功能、邏輯功能和各種特定半導(dǎo)體材料功能的。更具體地說,本發(fā)明涉及到這種半導(dǎo)體器件的多層互聯(lián)結(jié)構(gòu)及其制作方法。近年來,伴隨著半導(dǎo)體集成電路封裝密度的改進(jìn)和增加,多層布線結(jié)構(gòu)的改進(jìn)和使用已有顯著發(fā)展。在一個邏輯型半導(dǎo)體器件中,因?yàn)樾枰s短信號的傳播延遲,所以要求減小層間絕緣層的介電常數(shù)。因此,曾經(jīng)研究使用高密度等離子體CVD(化學(xué)氣相淀積)裝置(HDP-CVD)引入含氟氣體淀積SiOF(ε≈3.3)作低介電常數(shù)層。當(dāng)使用SiOF層作...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。