技術編號：6804493
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及半導體器件的檢測，特別涉及此類器件的加速老化的檢測。以前曾有各咱方法用于預測或檢測半導體器件的性能失效的性能。此類器件制造采用多種方法，防止不耐用的器件在顧客使用時失效。這些制造者希望器件具有良好的性能，以便建立器件的可靠性，避免退貨，減少制造者的保修呼叫，并避免用戶的不滿。一種眾所周知的與半導體器件壽命特別相關的現(xiàn)象通稱為“初期失效率”。該術語用來描述在新元件中觀測到的較高失效率。一般，元件在短期工作后，從原始的高失效率下降到一個低值，并在較長...
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