技術(shù)編號：6797133
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及一種綜合型集成電路高溫動態(tài)老化裝置，用于各種輸入信號少于64通道的數(shù)字邏輯電路、模擬電路、A/D、D/A、混合電路、門陣列電路、靜、動態(tài)存儲器電路(以下簡稱試品)作高溫動態(tài)老化試驗，供用戶對品種廣泛的試品進行老化篩選試驗分析用。隨著微電子行業(yè)的發(fā)展，生產(chǎn)廠家生產(chǎn)出引腳數(shù)極多，復(fù)雜程度越來越高的集成電路(簡稱IC)，IC的引腳數(shù)越多，往往意味著芯片具有更多的功能，許多高引腳數(shù)IC要求更為復(fù)雜的老化功能，在輸入信號方面比以前的要求更為復(fù)雜。目前市場上...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。