技術(shù)編號：6772755
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種用于半導(dǎo)體集成電路器件中存儲器電路的內(nèi)建自檢測(BIST)和內(nèi)建自修復(fù)(BISR)電路和方法。近來，隨著片載系統(tǒng)(SOC)設(shè)計(jì)被推崇為新的設(shè)計(jì)潮流，基于內(nèi)核的集成電路(IC)設(shè)計(jì)格外引人關(guān)注。因此，在IC設(shè)計(jì)中頻繁采用存儲器內(nèi)核或模擬內(nèi)核以及中央處理單元(CPU)內(nèi)核。跟隨SOC設(shè)計(jì)這一潮流，諸如CPU等復(fù)雜電路或系統(tǒng)芯片將需要更大容量的嵌入式存儲器來改善系統(tǒng)帶寬。現(xiàn)代技術(shù)能夠在滿足相對較小芯片尺寸的要求的同時實(shí)現(xiàn)高存儲容量。由于電路中的嵌入...
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