技術(shù)編號：6772266
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及半導體，更具體地，本發(fā)明涉及一種用于實現(xiàn)集成電路的故 障診斷的電路。背景技術(shù)近年來，各種在邏輯電路中集成了存儲器的集成電路芯片，諸如專用集成電路 (ASIC)或微處理器，被開發(fā)出來。由于集成電路芯片越來越復雜，因此用于適當?shù)夭⑶覐氐?地測試這些芯片的測試裝置在數(shù)量及復雜度上相應增加。為了降低復雜度并減少對外部測 試裝置的依賴，片上測試電路被提供在集成電路中，用于自動地進行至少部分測試。這種電 路通常被稱為內(nèi)置自測試(BIST)電路。BIST電路是...
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