技術(shù)編號(hào)：6771172
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器，并且，更具體地，涉及用于檢測(cè)硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器的硬盤(pán)上的缺陷區(qū)域，并區(qū)分缺陷區(qū)域是對(duì)應(yīng)于熱粗糙(thermal asperity)或是對(duì)應(yīng)于介質(zhì)缺陷。背景技術(shù)這一部分介紹了的多個(gè)方面，其可能有助于更好地理解本發(fā)明。因此，應(yīng)依照這一點(diǎn)來(lái)閱讀這一部分的說(shuō)明，并且這一部分的說(shuō)明不應(yīng)被理解為對(duì)什么是現(xiàn)有技術(shù)或什么不是現(xiàn)有技術(shù)的承認(rèn)。理想的硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器的硬盤(pán)具有完美地平的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)表面并且具有完美地均勻的材料組成。然而，實(shí)際上，硬盤(pán)并不是完美地平坦的，并且...
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