技術(shù)編號(hào)：6770999
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及硬盤驅(qū)動(dòng)器，并且更具體地，涉及用于檢測(cè)硬盤驅(qū)動(dòng)器內(nèi)的缺陷區(qū)域， 并且對(duì)缺陷區(qū)域相應(yīng)于熱粗糙(thermal asperity)缺陷還是介質(zhì)缺陷進(jìn)行分類的技術(shù)。背景技術(shù)本節(jié)介紹可以幫助便于更好地理解本發(fā)明的方面。因此，可以據(jù)此閱讀本節(jié)的敘述，并且不應(yīng)被理解為關(guān)于什么是現(xiàn)有技術(shù)以及什么不是現(xiàn)有技術(shù)的承認(rèn)。硬盤驅(qū)動(dòng)器的理想硬盤具有極其平整的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)表面，并且具有極其均勻的材料組成。然而實(shí)際上硬盤不是極其平整的，并且具有變動(dòng)的材料組成。作為這種情況的結(jié)果...
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