技術(shù)編號(hào)：6768158
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本公開涉及調(diào)節(jié)存儲(chǔ)裝置測試系統(tǒng)的溫度。 背景技術(shù)存儲(chǔ)裝置生產(chǎn)商通常要對(duì)其所生產(chǎn)的存儲(chǔ)裝置進(jìn)行測試，以符合需求。為了測試 大量串聯(lián)或者并聯(lián)的存儲(chǔ)裝置，就要有測試設(shè)備和技術(shù)。生產(chǎn)商傾向于對(duì)大量存儲(chǔ)裝置進(jìn) 行同時(shí)測試或者分批測試。存儲(chǔ)裝置測試系統(tǒng)通常包括具有多個(gè)用于測試的測試槽的一個(gè) 或者多個(gè)支架，該測試槽容納存儲(chǔ)裝置。在制造存儲(chǔ)裝置期間，通常會(huì)控制存儲(chǔ)裝置的溫度，例如以確保存儲(chǔ)裝置在預(yù)定 溫度范圍內(nèi)的功能。為此，緊鄰存儲(chǔ)裝置的測試環(huán)境被精確地調(diào)節(jié)。測試環(huán)境中最...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
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