技術(shù)編號：6766819
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開了一種相變存儲器的熱串?dāng)_測試方法，該方法利用相變存儲單元中的相變材料本身作為溫度探測器，通過在一個相變存儲單元上施加激勵信號，在另一個相鄰的相變存儲單元上施加測試信號，采集相鄰的相變存儲單元上的響應(yīng)信號，利用相變材料在不同溫度下電學(xué)性能及性質(zhì)的差異來測量相變存儲單元編程過程中相鄰的單元所受到的熱串?dāng)_影響大小，從而對相變存儲器熱串?dāng)_穩(wěn)定性進(jìn)行評估。本發(fā)明適用于一般的相變存儲單元結(jié)構(gòu)，不需要集成其他部件，提高了熱串?dāng)_測試的可靠性。專利說明 [0...
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