技術(shù)編號(hào):6764853
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。一種半導(dǎo)體裝置包括測(cè)試單元,所述測(cè)試單元包括數(shù)據(jù)判斷單元,所述數(shù)據(jù)判斷單元被配置成接收多個(gè)數(shù)據(jù),判斷多個(gè)數(shù)據(jù)是否相同,以及將判斷結(jié)果輸出為壓縮信號(hào);以及輸出控制單元,所述輸出控制單元被配置成響應(yīng)于測(cè)試模式信號(hào)和裸片激活信號(hào),而將壓縮信號(hào)輸出作為測(cè)試結(jié)果。專利說(shuō)明半導(dǎo)體裝置、利用它的測(cè)試方法以及多芯片系統(tǒng)[0001]相關(guān)申請(qǐng)的交叉引用[0002]本申請(qǐng)要求2012年12月20日向韓國(guó)知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的申請(qǐng)?zhí)枮?0-2012-0149910的韓國(guó)專利申請(qǐng)的優(yōu)先權(quán)...
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