技術(shù)編號:6759702
提示:您尚未登錄,請點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明是關(guān)于DRAM疊層封裝、DIMM及其試驗(yàn)方法和半導(dǎo)體制造方法。背景技術(shù) 作為現(xiàn)有的半導(dǎo)體裝置的試驗(yàn)方法,公知特開2001-35188號公報(bào)(專利文獻(xiàn)1)。在該專利文獻(xiàn)1中,記載了以下的內(nèi)容在芯片上至少安裝3個(gè)或多于3個(gè)可以分別獨(dú)立訪問的DRAM,并且該3個(gè)或多于3個(gè)DRAM中的至少一個(gè)與其它DRAM存儲容量不同的半導(dǎo)體裝置的試驗(yàn)方法中,在對各DRAM輸入各自獨(dú)立的試驗(yàn)用地址信號來進(jìn)行各DRAM的試驗(yàn)時(shí),將試驗(yàn)時(shí)間最長的DRAM排除在外,對其它DRAM...
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