技術(shù)編號：6758259
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種測試存儲器的方法，特別是一種。背景技術(shù) 測試存儲器的算法有許多種，這些算法的主要目的是為了仿真存儲器可能出錯的情形，以顯示出當(dāng)機(jī)器運(yùn)行時，使用中的存儲器可能出現(xiàn)的錯誤。一般的測試算法在單線程運(yùn)行時，給存儲器的負(fù)荷及壓力不足，因此無法測試出當(dāng)存儲器處于高壓下，才會出現(xiàn)的錯誤，通常的算法是把某些特定的樣本程序?qū)懭氪鎯ζ髦?，接著再讀出驗證，這些算法沒有對存儲器進(jìn)行反復(fù)的讀寫測試，給予存儲器的負(fù)荷量并不高且計算量較少，如此在單線程運(yùn)行時，給存儲器和中...
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