技術編號：6750673
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及一種，特別涉及一種結合探針的時分復用測試與修補的內(nèi)置自我測試存儲器的方法。嵌入式存儲器(embedded memory)應用在半導體元件上已經(jīng)有許多年了。而現(xiàn)在的嵌入式存儲器因為其容量密度越來越高，造成專用集成電路(application specific integrated circuit，以下簡稱ASIC)或邏輯部分的問題。并且當存儲器測試器(memory tester)所能夠提供的測試速度低于測試的需求時，亦必須設計出以高速來測試嵌入式存...
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