技術(shù)編號:6750413
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及一種雙重光學(xué)掃描設(shè)備,該設(shè)備用于利用兩種不同波長中的任意一種波長掃描光學(xué)記錄載體,其包括用于實施掃描誤差檢測的輻射檢測器陣列,本發(fā)明還涉及該輻射檢測器陣列。目前,正在對使用雙波長激光設(shè)備的掃描設(shè)備進行研究。典型地,這種掃描設(shè)備中的兩種波長使用同一條光束路徑,并且在兩種波長從激光設(shè)備的不同部分中發(fā)射出來之后,利用諸如衍射光柵將兩種波長相互結(jié)合。這就需要對兩種波長進行掃描誤差的檢測。用于光盤掃描設(shè)備中的典型的掃描誤差檢測方法是聚焦誤差檢測和跟蹤誤差檢...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。
該類技術(shù)無源代碼,用于學(xué)習(xí)原理,如您想要源代碼請勿下載。