技術編號：6739903
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及檢查磁頭元件的磁性的有效磁道寬度等的磁頭元件檢查器。背景技術為了測定薄膜磁頭的產(chǎn)生磁場形狀而檢查磁性的有效磁道寬度等，使用具有原子尺寸水平的高分解能的磁力顯微鏡(MFMMagnetic Force Microscope)等磁頭元件檢查器。在磁力顯微鏡中具有磁場檢測用懸臂，通過使懸臂在磁頭元件上掃描移動來測定磁場形狀。在磁頭元件檢查器中開始檢查時，需要將懸臂定位在基準位置。作為與之相關的技術，在專利文獻I中記載有下述結構以更簡單且在短時間內(nèi)進行懸臂...
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