技術編號:6739588
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明有關于一種光盤裝置,且特別是有關于形成于光盤的預訊坑(prepit)的檢測技術。一般而言,預訊坑如下所述的進行檢測。也即是,照射于信息記錄軌中心的激光的反射光,以于半徑方向與圓周方向被四分割的光傳感器將的變換為電信號,并計算于半徑方向被分割的光傳感器所輸出的二個信號的差值。然后,通過差計算除去記錄功率的調變成分,抽出差信號內包含的預訊坑并將之譯碼。于日本早期公開2000-311344中記載一種預訊坑檢測裝置,將檢測標記(mark)期間(以記錄功率照射...
注意:該技術已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權人授權前,僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權,增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。
該類技術無源代碼,用于學習原理,如您想要源代碼請勿下載。