技術(shù)編號：6739414
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及對光盤照射激光而進行信息的記錄或再現(xiàn)的光盤裝置。背景技術(shù)作為關于光盤裝置中的缺陷檢測的控制，例如在專利文獻I中記載有這樣的內(nèi)容，“具備保持單元，在通過缺陷檢測電路檢測出劃傷時，根據(jù)上述缺陷時間預測單元的預測，在緊臨下一個檢測到的劃傷之前保持(hold)上述伺服電路，并且在通過所述缺陷檢測電路檢測到劃傷的期間中保持上述伺服電路”。專利文獻日本特開2002-42354號公報發(fā)明內(nèi)容在光斑通過(經(jīng)過)光盤的劃傷或塵埃等缺陷部分的情況下，跟蹤誤差信號或聚...
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