技術編號：6738784
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及數據編碼技術，特別涉及。背景技術自動化測試設備(Automatic Test Equipment, ATE)用于檢測集成電路功能的完整性，是集成電路生產制造的最后流程，以確保集成電路生產制造的品質。隨著集成電路設計規(guī)模的增大，待測試數據量呈現指數級增長、這導致了傳統外部ATE面臨著存儲空間不足，輸入輸出時的帶寬有限及數據測試時間過長等嚴峻的問題， 測試成本越來越高。測試數據壓縮是解決上述問題的有效方法之一，通過壓縮測試數據可以減少數據傳輸時間以及...
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