技術編號：6657179
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及圖像分析，并且尤其涉及用于體積采樣的系統(tǒng)和方法。背景技術 通常對子體積、而不是對整個數據體積進行數據處理以確定特征值或產生信數據，例如，三維計算機斷層攝影(CT)掃描。通常，以這樣的方式從原始體積中提取子體積，使得子體積的采樣頻率與原始體積的采樣頻率不匹配。例如，一些算法可能需要子體積各向同性，而原始體積可能不是各向同性的或者在不同的分辨率下各向同性。在這種情況下，通過以給定的采樣頻率對原始體積進行采樣來從原始體積中提取子體積。由于該采樣，原始體...
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