技術(shù)編號(hào):6649224
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。背景本發(fā)明的實(shí)施例一般涉及處理處理器中的錯(cuò)誤。來(lái)自瞬時(shí)故障的單個(gè)比特翻轉(zhuǎn)或錯(cuò)誤是微處理器設(shè)計(jì)中的關(guān)鍵挑戰(zhàn)。該故障源于來(lái)自宇宙射線的高能粒子—諸如中子和來(lái)自封裝材料的阿爾法粒子—當(dāng)它們經(jīng)過(guò)半導(dǎo)體器件時(shí)產(chǎn)生電子—空穴對(duì)。晶體管源和擴(kuò)散節(jié)點(diǎn)可收集這些電荷。足夠量的累積電荷會(huì)改變邏輯裝置的狀態(tài)—諸如靜態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(SRAM)單元、鎖存器或門(mén)電路—從而將邏輯錯(cuò)誤引入電子電路的運(yùn)作中。因?yàn)檫@種錯(cuò)誤不反映器件的永久性故障,所以其被稱作軟錯(cuò)誤或瞬時(shí)錯(cuò)誤。隨著片載晶體管...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。
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