技術(shù)編號：6640586
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開一種測試高密度機(jī)柜內(nèi)部震動對IO性能影響的方法，通過在Linux系統(tǒng)下編譯一個Expect腳本，對機(jī)柜RMC和測試節(jié)點進(jìn)行遠(yuǎn)程控制，在RMC進(jìn)行風(fēng)扇轉(zhuǎn)速的調(diào)節(jié)，在測試節(jié)點上使用fio磁盤檢測工具對節(jié)點IO性能進(jìn)行測試，并收集測試數(shù)據(jù)；最后根據(jù)收集到的測試數(shù)據(jù)與基線數(shù)據(jù)進(jìn)行對比，來分析風(fēng)扇陣列在不通轉(zhuǎn)速下產(chǎn)生的震動對服務(wù)器IO性能產(chǎn)生的影響。該方法可以在充分的檢測出機(jī)柜在各種不同的風(fēng)扇轉(zhuǎn)速下的IO性能，并通過與靜態(tài)條件下磁盤性能的比對，判斷出機(jī)柜在...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
請注意，此類技術(shù)沒有源代碼，用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。