技術(shù)編號(hào):6600174
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種測(cè)試報(bào)告管理系統(tǒng)及方法,尤其涉及一種。背景技術(shù)內(nèi)存的容限測(cè)試是印刷電路板(printed circuit board, PCB)測(cè)試中最重要的測(cè)試之一,該容限包括電壓容限和時(shí)間容限。在高速PCB設(shè)計(jì)中,有很大一部分工作是進(jìn)行噪聲預(yù)算,規(guī)劃系統(tǒng)各種噪聲源產(chǎn)生噪聲大小,這就涉及到電壓容限。電壓容限是指內(nèi)存和 CPU之間信號(hào)輸出輸入在最壞情況下的靈敏度之間的差值。時(shí)間容限是指在內(nèi)存的讀寫(xiě)測(cè)試中,時(shí)鐘信號(hào)和數(shù)據(jù)信號(hào)之間的時(shí)間誤差。然而上述容限測(cè)試結(jié)束...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。
請(qǐng)注意,此類技術(shù)沒(méi)有源代碼,用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。