技術(shù)編號(hào)：6586279
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種內(nèi)存處理方法，具體地說(shuō)，是涉及一種對(duì)嵌入式系統(tǒng)內(nèi)存泄露進(jìn)行檢測(cè)的方法，屬于嵌入式系統(tǒng)。 背景技術(shù)對(duì)于內(nèi)存泄露，一般是指堆內(nèi)存的泄露。堆內(nèi)存，是指應(yīng)用程序在運(yùn)行過(guò)程中，利 用一些特定的函數(shù)從堆中分配的、而在使用完畢后再通過(guò)特定的函數(shù)予以釋放的內(nèi)存。如 果應(yīng)用程序在使用完堆內(nèi)存后沒(méi)有將其釋放，則這塊內(nèi)存就不能被再次使用，就認(rèn)為這塊 內(nèi)存泄露了。 根據(jù)其發(fā)生的方式來(lái)分，內(nèi)存泄露可以分為下述4類 (1)常發(fā)性內(nèi)存泄露發(fā)生內(nèi)存泄露的函數(shù)代碼會(huì)被多次執(zhí)行...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
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