技術(shù)編號(hào)：6571045
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及半導(dǎo)體集成電路領(lǐng)域器件模型的參數(shù)提取技術(shù)，主要用于提取半導(dǎo)體器件 的各種解析模型和半解析模型參數(shù)。背景技術(shù)在半導(dǎo)體集成電路的生產(chǎn)過程中，器件模型參數(shù)的提取是一個(gè)很重要的環(huán)節(jié)。目前用 來提取半導(dǎo)體器件模型參數(shù)的方法很多，其中最普遍的是基于偏微分計(jì)算的最小二乘法、 牛頓迭代法和麥夸脫算法等，這些方法都是利用求得函數(shù)在連續(xù)區(qū)間極小值的方法來獲得 器件模型參數(shù)的。隨著半導(dǎo)體工藝的發(fā)展，半導(dǎo)體器件已進(jìn)入超深亞微米乃至納米時(shí)代，器件中的各種 效應(yīng)變得越來越復(fù)...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
請(qǐng)注意，此類技術(shù)沒有源代碼，用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。