技術(shù)編號(hào)：6568495
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明從根據(jù)獨(dú)立權(quán)利要求的前序部分的用于在微處理器的至少 兩個(gè)執(zhí)行單元的輸出數(shù)據(jù)之間進(jìn)行比較的方法和設(shè)備.背景技術(shù)由oc粒子或宇宙輻射所引起的瞬時(shí)錯(cuò)誤對(duì)于集成電路來(lái)說(shuō)日益成為一個(gè)問(wèn)題.以下概率由于減小的結(jié)構(gòu)寬度、下降的電壓和更高的時(shí)鐘頻率而增加，即由a粒子或者宇宙輻射所引起的電壓峰值在集成電 路中使邏輯值失真.結(jié)果可能是錯(cuò)誤的計(jì)算結(jié)果.因此在安全性相關(guān) 的系統(tǒng)中必須可靠地對(duì)這樣的錯(cuò)誤進(jìn)行檢測(cè).在必須可靠地檢測(cè)電子設(shè)備的功能失誤的安全性相關(guān)系統(tǒng)、諸如 汽車中...
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